Inframet MTB面源黑體有優異的溫度分辨率，時間穩定性，很高的溫度均勻性和優異的溫度精度。 所有這些功能使MTB系列黑體作為**標準實驗室或工業實驗室溫度標準的理想選擇。

主要特性

高分辨率的溫度調節（0.01?C，優于市場上其他的黑體，通常這些黑體分辨率為0.1?C）；非常好的時間穩定性（0.1?C，優于市場上提供的其他黑體，通常為0.5?C）；良好的溫度均勻性（1?C@125?C，市場上其他黑體通常為3?C@300x300mm）；所有的MTB黑體都由PC使用先進的溫度穩定算法進行控制。 IR FPA 傳感器 焦平面陣列傳感器，為智能穿戴設備提供精細傳感器測試。上海德國進口光電測試系統

MAB黑體是在整個太赫茲和亞太赫茲頻譜帶中商用的并且具有高發射率的大面積寬帶黑體。此黑體已經由Inframet研究團隊進行了幾年的實驗研究。

主要特性

寬泛的頻譜范圍涵蓋了THz和亞THz頻帶；大面積高達1mx1m；Thz/亞THz波段的高發射率；大面積輻射面上具有良好的熱均勻性；高溫度分辨率1mK和溫度穩定性10mK；高速，易于PC控制；緊湊可靠的設計（黑體與控制器集成）。

在國際市場提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標：約1μm至約15μm。 這種黑體的發射面的高發射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現。 上海德國進口光電測試系統光電系統應用于包裝行業，確保產品密封性。

TAIM熱瞄準鏡和熱像儀夾測試系統是DT系統的一個特殊版本，為測試典型的熱瞄準鏡或熱像儀夾而優化，可以快速、多功能和準確地測試。TAIM由DT120測試系統(用作圖像投影模塊和圖像分析模塊)，附加一組模塊：用于瞄準具測試的Picatinny導軌，兩個HEC相機用于捕捉圖像，AHEC適配環固定HEC相機的位置，YNAS10平臺可以調整相機與被測樣品之間的夾角，DPM屈光度量度計，AT720光學平臺，可選配其他分析軟件和HEC相機和可選DICAN距離調整裝置。

一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。精確測量，光電技術領航紡織行業自動化。

為完成太空測試任務的紅外系統，通常使用模擬太空條件的低溫真空黑體進行測試。所需黑體的設計，技術上是一個挑戰，由于一系列特殊要求：在真空條件下工作的能力，承受低溫度的能力，黑體發射器溫度的準確調節，以及遠程控制位于真空室中的黑體，其控制中心位于真空室外。VSB黑體是Inframet公司根據太空實驗需求開發的新型黑體。VSB黑體是設計用來在環境溫度為-173?C至-33?C的冷卻真空室中工作時，模擬低/中溫目標（-10℃至+200℃）的面源黑體。換句話說，VSB黑體是用于在太空環境條件下，模擬地球上的溫度目標。VSB黑體的發射器面積尺寸從50x50mm到150x150mm。發射器的溫度由緊貼發射器的加熱元件陣列來調節。使用超準確算法進行溫度穩定控制。VSB黑體針對長距離控制進行了優化，位于真空室內的黑體可以從位于真空室外的PC控制。此外，黑體經過優化，可與MRW-8輪集成配套使用。光電測量，保障樂器制造音準與品質。上海光電測試系統作用

光電測試技術，提升家具制造精度與美觀度。上海德國進口光電測試系統

ORI光學鏡頭測試系統是一臺通用型光學鏡頭測試系統。該系統可以測量鏡頭的所有重要參數：MTF，分辨率，EFL，畸變，漸暈，透過率，BFL，工作焦距，焦深，場曲，色差等。可測試波段涵蓋了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于測試多波段光學系統，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。

ORI測試系統原理：目標發生器放置在被測鏡頭的焦平面上形成一套投影系統，透射出的平行光入射平行光管，蕞終成像到相機的接收面上。ORI測試系統蕞大的特點是采用逆光路測量原理，較一般正光路的測量系統具有獨特的優勢。 上海德國進口光電測試系統